GB 4376-1984 半导体集成电路稳压器系列和品种
作者:标准资料网 时间:2024-05-02 21:45:39 浏览:9277
来源:标准资料网
基本信息
标准名称: | 半导体集成电路稳压器系列和品种 |
中标分类: |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
半导体集成电路 |
替代情况: | 被GB/T 4376-1994代替 |
发布日期: | |
实施日期: | 1985-02-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | |
页数: | 56页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
没有内容
所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路
【英文标准名称】:Testingofeye-protectors;testingtheresistancetohighandlowtemperatures
【原文标准名称】:眼防护用具的检验.耐热性和耐低温性的检验
【标准号】:DIN58212T.5-1988
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【英文标准名称】:IEEERecommendedPracticeforReportingFieldFailureDataforPowerCircuitBreakers
【原文标准名称】:电力断路器的磁场失效数据报告用IEEE推荐实施规程
【标准号】:IEEE1325-1996(R2008)
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:AFailureReportingForm,figures1and2,hasbeendevelopedbytheIEEESwitchgearCommitteetoimprovethereliabilityofcircuitbreakersthroughuniformreportingoffieldfailures.Theuseofthisapproachistherecommendedpracticeforallusersofpowercircuitbreakers.
【中国标准分类号】:K31
【国际标准分类号】:
【页数】:12P.;A4
【正文语种】:英语